薄膜和涂层的元素分析

用FTIR光谱法从化学上识别薄膜和涂层有许多方法。它们是透过率、衰减全反射(ATR)、宽幅角反射率(GIR)或红外反射吸收光谱(IRRAS)、偏振调制iras (PMIRRAS)．根据薄膜厚度、光学特性和支撑衬底的不同，可以优先采用不同的测量模式。

金属涂层被用作环境屏障，积极保护底层材料免受降解。在工程和建筑材料中，它们应用于结构金属和合金。对于光学器件，它们被用作前照灯反射器的反射镜和镀银。金属涂层也存在于日常用品中，如眼镜、器具、手表、珠宝和玩具。这些涂层的性能在很大程度上取决于它们的厚度、晶体结构、化学成分和机械耐久性。bob电竞安全吗Bruker提供了广泛的电子显微镜或独立的分析工具，以促进这种涂层的发展。例如与micro-XRF用于金属多层叠片成分和涂层厚度的定量分析。和电子显微镜分析仪(EDS, EBSD, WDS)用于快速可靠的定量化学和结构分析。

纳米材料通常用透射电子显微镜(TEM)进行研究。然而，利用扫描电子显微镜(SEM)的大视场来定量表征纳米材料是可能的。的轴上跆拳道技术就是为此目的而发展起来的;现在，基于sem的方法已经很成熟，可以使用EBSD硬件在纳米尺度上进行定向分布测量。在本应用实例中，用激光测量了金和铂薄膜的取向分布e-Flash FS探测器retroffited与擎天柱跆拳道头部在FEG-SEM中。在低探针电流(<3 nA)下实现高速TKD测量，允许克服光束漂移并实现超高空间分辨率:在20分钟内测量了1000多个晶粒，最小晶粒尺寸为20 nm，孪晶界等超细特征被解决(3nm)。