半导体解决方案

Current-In-Plane隧道(CIPT)

表征薄膜栈在微观范围内

Current-In-Plane隧道(CIPT)

Current-In-Plane隧道(CIPT)是一个非常快的和成本有效的方法来描述磁隧道结(MTJ)。SmartTip探测器提供了轨迹、高精度仪器行业和学术界执行CIPT测量。平面和垂直领域选项可用。

CIPT方法

Current-In-Plane隧道(CIPT)方法用于描述隧道结的性质,通过着陆探测器上的样本。这些非侵入式测量极大地加快开发和测试,由于小型化探针间距这些测量可用于均匀性控制和参数表征。

CIPT测量确定隧道结电阻堆栈使用四点探针方法。

CIPT探针

CIPT探测技术发展水平是MEMS器件组成的12个内联metal-covered探测手指(电极),每个只有几微米和亚微米宽长。这些探测器的非常小的规模允许非常温和的联系人,并使它们适合当地(微尺度)电气测量。

探测范围

四种不同类型的探针是可用的(平均间隔从0.75µm 59µm)。要求我们可以满足您的特定要求设计一个调查实验。所有CIPT探针也可以在陶瓷载体,符合Capres工具。

你最喜欢的调查

和测量需求请联系我们,我们很乐意提供你的具体情况。

样品制备

请注意,与样本建立电接触的能力很大程度上取决于样品表面。接触力通常是太小,穿透氧化层,因此样本应该被限制non-oxidizing导体或金属形成导电氧化物(例如Pt和俄文)。

SmartTip 12号CIPT测量探针

SmartTip历史和技术

bob电竞安全吗力量的SmartTip™CIPT解决方案提供几个领域高、高精度仪器行业和学术界执行current-in-plane隧道测量。平面和垂直领域选项可用。

由任务驱动开发新前沿MEMS-based纳米探针,我们的目标是使MEMS-based微探针技术通过合作和与客户的合作。我们SmartTip解决方案定位推进高科技纳米探针的应用与发展致力于质量和持续改进。bob平台靠谱吗