扫描微波阻抗显微镜(SMIM)是一种基于AFM的材料和设备表征的技术,不需要在样品和底物之间进行电气接触。它可以通过从尖端样本界面反射微波信号来揭示电态性能来揭示电态性能由于近场信号的穿透样品表面和子表面。
通过偏向于测试的样品或设备,SMIM还提供了类似于传统扫描电容显微镜(SCM)的载体分析(DC/DV)功能。以同样的方式,它还唯一地提供了非线性电阻性能(DR/DV)的映射。凭借SMIM及其AC样品偏置调制信号,SMIM适用于研究具有复杂组成或正在测试的设备的表面,例如金属,半导体和绝缘域。作为一种近场方法,该分辨率仅受探针的尖端半径的限制,并且可以轻松实现用于电图<30 nm的横向分辨率。这些独特的功能使得在广泛的应用中,使其优于其他基于AFM的电气模式。bob平台靠谱吗
bob电竞安全吗Bruker的Smim启用:
当布鲁克的独特授权时bob电竞安全吗峰值攻击®,Smim将其应用大大扩展到以前在脆弱样品上的挑战测量bob平台靠谱吗,同时提供相关机械性能的同时映射。直接成像SMIM的纳米长度尺度上样品的局部变化的能力刺激了研究和应用的新领域,例如CNT,纳米颗粒氧化物膜,地下图案和半导体设备。bob平台靠谱吗Smim用峰值敲击的多功能性使材料研究人员和设备工程师能够探索基本原理,并执行更高级和完整的材料表征和设备故障分析。
高分辨率弱,峰值敲击可传递:
Peakforce Smim应bob平台靠谱吗用程序包括: