地幔岩石学与钻石的来源

这里显示的是来自含金刚石的纽兰金伯利岩(南非，卡普瓦尔克拉通)的地幔石榴石尖晶石橄榄岩的SEM-XRF元素图。各种元素的强度表明样品中存在某些矿物质;例如Ca(绿色)-斜辉石;铬(蓝)-铬铁矿;Al(黄色)为石榴石，K(橙色)为交代性。对薄板进行了分析在SEM MicroXRF．样品约3厘米x 2厘米，作为一个单帧进行分析。每个像素的完整光谱允许进一步的离线处理，如添加元素，从地图中提取光谱，地图的量化或自动相位。

微x射线荧光数据具有识别高能x射线线以及样品中的微量元素的优点。微x射线荧光是一种小的斑点分析(约35微米)，尽管比电子束大。相互作用体积比电子束大得多，且与元素和样品矩阵有关。因此，二维元素图可能在电子束和x射线生成的图之间产生差异。较低的光谱背景可以探测到电子束无法探测到的微量元素。样品制备要求不同;例如，没有充电效果，因此没有样品涂层。此外，由于信息的深度，不需要高质量的润色。此外，只要粗糙的样品具有平面表面，就可以进行分析。量化可以是无标准的，也可以是基于标准的。