Xflash 6-100

非常特殊的情况需要非常特殊的探测器。Xflash^®在有限的信号有限的情况下，在这种情况下进行了6-100。例如，在分析非常敏感的样品或使用冷果实SEM时，这是这种情况。大100毫米²活动区域和窄端盖提供了最大的实体角度，即使在这些不利条件下，也可以在短时间内获得光谱。同时xflash^®6-100具有与较小探测器相同的高计数能力（输入时最多可容纳1,500 kcps），使其成为EDS分析的真正独特工具。

总而言之，Xflash^®6-100提供以下优势：

• 良好的能量分辨率（MNKα的129 eV，CKα的57 eV和Fkα的67 eV）
• 极高的脉搏负载能力
• 良好的轻元素和低能量性能（元素范围为-AM）
• 没有精心制作的振动生成冷却系统
• 电源后立即可用
• 低工作成本
• 无维护操作
• 小尺寸
• 低重量，包括细线技术手指

建议的Xflash申请领域^®6-100是：

• EDS SEM，Microprobe，Fib-Sem的系统（作为选项可用的焊接波纹管）
• 低光束电流和敏感样品分析（带冷场发射极的SEM）