나노기계테스트

DMA III - 동적동적들여쓰기들여쓰기

나노스케일동적적분석

정량적스케일프로파일링및점탄성측정측정

2 nm에서(100)CMX깊이 -110 nm。데이터의나노적테스트에발생탈구버스트입니다입니다입니다。

DMA III(DMA III)(나노스케일동적적분석)는나노스케일특성측정수행하는데사용되는되는강력새로운새로운동적동적테스트기술입니다입니다。Nanodma iii는된cmx제어제어있어재료에깊이의함수로서로서적특성특성을진정진정으로으로지속지속적적으로으로할수있습니다cmx는들여쓰기,주파수및함수,스토리지,손실,손실,복잡한계수,복잡한계달수및및황갈색델타를한기계기계적적특성특성을정량정량적이고이고지속지속적적으로합니다

기준주파수기술을하여구리및시멘트에대한대한대한시간시간크리프테스트테스트。

강력한스케일동적특성화

고대역폭트랜스제어장치는나노동적에완전히되어있으며업계최고의의의,감도감도성능성능성능성능감도감도감도및및광범위한광범위한범위범위를를제공제공Hysitron의된된된된된힘힘진정한스케일적적특성화를를가능하게하고다른나노스케일스케일동적동적강성강성기술기술을을괴롭히는느린느린느린느린피드백피드백응답시간시간DMA III는는에서열보정보정고유기준주파수기술을통합통합하여나노스케일에서장기간장기간주파수스윕및크리프크리프크리프테스트테스트테스트를를안정안정적적으로으로수행수행수행수행할