준정나노핀덴티션

준-정전기나노핀팅은재료의나노기계적특성화에사용되는@준기술이되었다。준정나노핀팅화테스트는기하학적으로잘정의된프로브를사용하여고도로제어된방식으로샘플에하중을적용하고제거하여수행됩니다。

나노들여쓰기공정동안,트랜스듀서에의해힘이가해지고프로브변위는기존의힘대변위곡선을생성하기위해지속적으로측정된다。결과힘대변위곡선은정량적나노스케일재료특성을결정할수있는재료의”기계적지”문역할을합니다。브루커의히시트론나노핀터는독특한3플레이트정전용량트랜스듀서설계로나노들여쓰기프로브의힘과변위를측정합니다。이트랜스듀서디자은타의추종을불허하는소음바닥과초저력을제공합니다。

정밀가공된견고한나노핀덴티션프로브와함께정전용량트랜스듀서에사용되는엄격하게제어된시공및교정표준은모든재료에대해정량화가능하고신뢰할수있는측정을생성합니다。

측정된힘대변위곡선(특히언로딩세그먼트)의분석은사용자에게시료의기계적특성에관한정량적정보를제공합니다。일반적으로준정나노핀덴티션테스트에서얻은값은감소된계달름_r)및경도(h)이다。그러나골절성，강성，절충력및필름두께와같은다른정보도얻을수있습니다。

모든Hysitron독립형나노필딩시스템은sPM내이미징을할수있습니다。동일한프로브를사용하여테스트직전및/또는테스트직후의샘플표면을스캔하면테스트후변형이벤트또는샘플복구를정확하게배치할수있습니다。

브루커의준정나노핀덴티션은최대의다기능성을위해설계되었습니다。모든Hysitron독립형나노들여쓰기시스템을갖춘표준최대10 mn및30 n미만의소음바닥을갖춘준정적나노핀덴티션은광범위한샘플테스트가능성을포괄합니다。