原子力显微镜

维边缘

최고의가치를지닌고성능afm

突出了

维边缘

维边缘™는브루커의PeakForce攻®기술을통합하여동급최고수준의원자력현미경(AFM)성능,기능성및접근성을제공합니다。维图标플랫폼을기반으로边缘시스템은성능에대한기대치보다훨씬낮은가격대에서게시준비데이터를몇시간이아닌몇분만에달성하는데필요한낮은드리프트와낮은노이즈를제공하도록위에서아래로설계되었습니다。통합된시각적피드백과사전구성된설정을통해전문가수준의결과를간단하고일관되게구현하여모든시설과사용자가최첨단대형샘플AFM기능과기술을사용할수있습니다。

모듈
현미경및전자제품
합리적,가격으로고화질이미지정확도와연구의유연성을제공합니다。
内置的
신호라우팅에대한액세스
맞춤형측정및확장된연구기능을지원합니다。
통합
스테이지컨트롤
신속한샘플탐색과효율적복수역측정을제공합니다。

特性

특징

폐쇄루프정확도

이시스템의기능의핵심은브루커의유명한폐쇄루프스캐너입니다。온도보정위치센서를통합하고모듈식저소음제어전자장치로구동되는이팁스캐닝구성요소는폐쇄루프위치노이즈수준을단일화학결합의길이척도로감소시킵니다。

다프니아는작은갑각류(400μm ~ 3毫米)로,물의높은pH수준(최대9.5)과같은환경적요인에매우내성이있습니다。이독특한저항의근본원,은잘알려져있지않습니다。따라서갑피의나노스케일특성을연구하고,왜사물들이갑피에달라붙지않는지,생물학자들뿐만아니라산업표면의개발및설계에특히관심이있습니다。

대형샘플스테이지

维边의대형샘플스테이지를클로즈업합니다。

维边缘샘플단계는효율적인복수영역측정을위해전동식이며프로그래밍이가능할뿐만아니라준비시간이짧은AFM스캐너바로아래에더많은유형의샘플을맞출수있습니다。프로브샘플접합부에물리적으로개방된접근은기하학적으로어려운장치구조와전기연결또는기타사용자지정실험액세서리의부착에대한보다직접적인조사를가능하게합니다。

자동이미지최적화

”边缘는지능형"알고리즘을사용하여이미지품질을자동적이고지속적으로모니터링하고적절한매개변수를조정합니다。이를통해연구자들은설정값,피드백이득및스캔속도를조정하는복잡하고지루한작업에서벗어나,단순히스캔영역을선택하고공기또는유체에서거의모든샘플에대한크기를스캔하는것처럼이미징을쉽게만듭니다。

Hopg의c36h74알칸의폐쇄루프위상이미지。개별라멜라는모든트랜스구성에서C36H74체인의길이와일치하는간격(~ 4.5海里)으로명확하게볼수있습니다。이미지크기130nm。

bob平台靠谱吗

Afm모드

Afm모드로애플리케이션확장

타의추종을불허하는이미징모드제품군을갖춘力量는모든연구bob电竞安全吗를위한AFM기술을보유하고있습니다。

핵심이미징모드(接触模式와开发模式)의근본을기반으로구축된力量는사용자가샘플의전기적,자기적또는재료특성bob电竞安全吗을조사할수있는AFM모드를제공합니다。bob电竞安全吗力量의혁신적인새로운PeakForce攻기술은지형,전기및기계적특성데이터를병렬로제공하는여러모드에통합된새로운핵심이미징패러다임을나타냅니다。

빠른나노전기계측

전도성afm (CAFM)을갖춘FastScan기술은높은스캔속도로나노스케일전류측정을수행할수있어고장분석측정의효율성을크게높일수있습니다。FastScan HPI는소형자기력현미경검사법(MFM)캔틸레버를사용하여PeakForce태핑을사용하여뛰어난데이터품질을갖춘MFM애플리케이션에대해10배이상의스캔속도향상을제공합니다。PeakForce KPFM™표면전위의가장높은공간해상도와가장정확한측정을제공합니다。피크포스金枪鱼™가장민감한전도도측정을제공합니다。

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