Anasys nanoIR3-s
고성능s-snom및afm이미지
하이라이트
Anasys nanoIR3-s
브루커의Anasys nanoIR3-s시스템은주사광학현미경(s-SNOM)과나노스케일红外분광법(AFM-IR)을통합원자력현미경(AFM)과결합하며,이모든것을단일플랫폼에서지원합니다。AFM기반나노광학특성화에서Anasys의우수한기술을이용해nanoIR3-s는2 d물질샘플측정에서입증된10나노미터이하의공간해상도를가지고나노스케일红外분광법,화학적이미징그리고광학특성매핑을제공합니다。또한이시스템은나노미터크기의해상도로AFM표면이미징및재료특성이미지를가능하게하여광범위한재료과학응용분야에서관련연구를위한이상적인장비입니다。
광대역
纳米ftir분광법
이전에는얻을수없었던飞秒나노스케일적외선연구를제공합니다。
상호보완적
s-SNOM및AFM-IR기법
하나의장비에서나노스케일화학및광학특성이미지를지원합니다。
고해상도
원자력현미경검사법
상관관계가있는전기，기계및열데이터를제공합니다。
특징
10nm의공간해상도의화학이미지및분광법
그래핀플라즈모닉스
그래핀플라스모닉:그래핀플라즈모닉스:그래핀웨지의s-SNOM상및표면플라즈몬플라리톤(SPP)진폭이미지。(왼쪽)SPP정상파의선횡단면이포함된s-SNOM상,(오른쪽)s-SNOM진폭。맨위의이미지는3d형태로본상이미지를3d형태로본것입니다。
고해상도특성이미지화
그래핀플레이크를통과하는횡단면은子10 nm이하의해상도의광학적특성영상을보여줍니다。
고성능Nano FTIR분광법
분자진동정보를측정할수있는초고속광대역산란SNOM분광법PTFE(聚四氟乙烯)의레이저인터페로그램은시간영역에서자유유도감소의형태로간섭성분자진동을표시합니다(맨위)。시료인터페로그램의강조표시한특성은주파수영역氟모드의대칭및반대칭모드의비팅(跳动)때문입니다(왼쪽아래)。Nano-FTIR의단분자층감도가단분자층pNTP에durant시됩니다(오른쪽아래)。데이터제공:미국볼더소재콜로라도대학교马库斯·拉舍克교수
오직nanoIR3-s에서제공하는기능은다음과같습니다。
- 고성능의nano FTIR분광법
- 최첨단NanoIR레이저광원을지원하는고성능의IR SNOM분광법
- DFG激光를이용한纳米红外光谱분광법,연속체기반레이저광원광대역싱크로트론광원통합
- 분광법및화학이미지용멀티칩QCL레이저광원
POINTspectra기술
POINTspectra레이저는광범위한파장에걸친분광법과고해상도광학특성이미지화를모두지원합니다。nanoIR3-s를사용하면상관관계데이터를생성하는간단한작업이가능합니다。
- Afm이미지에서측정할특성을선택합니다。
- 시료의분광법을측정하고，관심있는파장을선택합니다。
- 고해상도광학특성이미지화를생성합니다。
진폭10 nm이과하의공간해상도이미지는광범위한파장에걸쳐인터페로그램으로부터신속하게측정됩니다。상호보완적limelight IR분광법을위한10nm해상도点击AFM-IR을지원합니다。
