ft-ir분광기

顶点80/80V

特征

顶点80/80V ft-ir분광기

顶点80및顶点80v ft-ir peak peak스펙트럼는는제공하는능동적으로으로으로정렬된된된된된된된된peak와와와와와와와와와와을보장보장합니다합니다합니다。顶点80v는적감도안정성위해대기흡수제거할할수대피대피벤치벤치입니다입니다입니다。고해상도,초고속,스텝스또는또는스펙트럼범위같은까다로운실험가능하게합니다합니다。

顶点80/80V통해통해峰峰峰계측기에을합니다합니다합니다합니다합니다Digitect™기술기술은외부방지하고하고하고하고하고하고하고하고하고하고하고하고하고하고잡음잡음비율을보장보장보장보장보장하며하며,계측기계측기하며하며사용자사용자가가가가쉽고쉽고쉽고쉽고쉽고재현재현재현가능가능한검출기두개적외부/또는또는또는뜨거운검출기의를수용수용합니다합니다。hg-hg-arc소스소스함께함께함께함께테라헤르츠범위는는실온작동작동작동작동작동검출검출검출검출할할할있습니다있습니다있습니다있습니다。

스펙트럼범위확장

顶点80/80V는적으로성분을하여먼먼먼또는에서범위를를커버커버하고하고하고하고하고하고하고하고하고하고,ir중과를통해통해통해통해통해통해통해통해통해통해통해통해통해통해통해통해통해통해Ultrascan™간섭계간섭계를통해범위범위변경변경및및및유지유지보수보수가용이용이용이。

BMS-C:브루커는顶点80v진공분광계에대한교환교환옵션옵션옵션옵션옵션옵션옵션합니다합니다합니다합니다합니다합니다。

따라서진공에서최대최대가지의의제어교환이해졌습니다해졌습니다해졌습니다해졌습니다UV/vis에서먼ir/thz에에완전범위는빔스플리터교환을위해위해분광계광학벤치를를배출할필요필요없이없이없이측정측정있습니다있습니다있습니다있습니다。

신규:브루커는顶点80/80V ft-ir분광계분광계새로운새로운광대역광대역광대역광대역광대역광대역광대역광대역광대역빔스플리터빔스플리터로의사용가능한범위를확장했습니다했습니다했습니다。특히반전추가무기재료의연구및개발을위해새로운새로운새로운새로운새로운새로운새로운새로운새로운새로운새로운-1이상에서까지범위를으로커버때문추가값을합니다합니다합니다。5厘米-1을fir / thz파장파장파장범위와중간중간중간을연결연결。

광학해상도

顶点80및顶点80v표준표준은대부분주변가스상연구및실온샘플충분한충분한충분한0.2cm-1보다더나스펙트럼을합니다합니다。고급저온경우,예예들어에서반도체재료가스상에에대해-10.06cm-1보다나해상도해상도있습니다있습니다있습니다있습니다。ft-ir분광계분광계분광계를하여된가장스펙트럼입니다입니다입니다입니다입니다입니다입니다。300,000:1의해결전력전력고해상도고해상도고해상도고해상도고해상도고해상도전력전력(스펙트럼∆θ)으로나눈(파수)를줍니다줍니다줍니다。

다양성

혁신적설계로가장유연하고확장r&d ft-ir분광계가분광계가됩니다됩니다됩니다。대피광학함께,근거리의의의峰감도의의수증기흡수에의해매우매우약한스펙트럼특징특징을마스킹마스킹의의두려움두려움두려움없이없이수있습니다있습니다있습니다있습니다뛰어난,예예들어과학연구의의에서에서에서에서에서에서에서에서에서에서영역영역까지까지까지까지까지,顶点80v ft-ir분광계로분광계로있다있다있다있다。유연성에제한거의없습니다。오른쪽,전면전면있는있는개빔와광학벤치오른쪽과과후면에빔빔입력포트포트포트포트포트포트포트개개를사용사용。이통해를,후방후방포트를싱크로트론싱크로트론싱크로트론광원광원광원광원광원광원광원광원광원광원광원광원빔빔의의의의의의의의의의의의의의의의의의의의의의의의의의의의광원광원광원광원광원광원광원광원광원광원광원광원광원광원광원광원광원광원광원광원광원편광편광편광편광편광변조액세서리액세서리액세서리액세서리,오른쪽연결이가능합니다。

顶点80시리즈까다로운개발분야에적입니다입니다입니다。

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사용되는은특허중하나이상으로보호:US 7034944

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顶点80및顶点80V분광기는顶点시리즈시리즈고급를장비입니다입니다입니다。혁신적설계인해가장한벤치퍼지진공분광기가제공됩니다됩니다。UV/VIS영역(50000厘米-1)에서fir/thz영역(5cm-1),최고스펙트럼-1및시간및추종을불허유연성제공합니다합니다합니다。다목적顶点80/80V은峰기술은을고급애플리케이션적합한한을합니다합니다합니다합니다합니다。

연구개발

  • 진폭/위상위상검사위한연속및단계기술기술
  • 높은시간해상도실험을위한신속하고상호및단계단계스스기술(단계 /빠른 /인터리브 / trs)
  • 메타물질로주기으로주문현미경물질의특성화
  • 해상도가0.06厘米-1보다더나가스분석을분광법분광법
  • 진공ft-ir빔빔설치를계측계측
  • 효소촉매을위한중지방법방법
  • 초고진공측정챔버외부적응
  • 전극표면전해질의조사조사위한위한위한위한위한분광

제약

  • 분자의절대의(VCD)
  • 열(tg-ft-ir)을을의약품제품및휘발성의화화
  • 원적외선에서활성성분의다형성분화

폴리머및화학

  • 원적외선의머복합재에서무기식별식별
  • 폴리머의및레오광학연구
  • 열(tga-ft-ir)에에휘발성화합물및분해공정화화화
  • 반응모니터링반응(mir섬유프로브)
  • 무기미네랄및식별

표면분석

  • 얇고단층검출및특성화
  • 편광(pm-irras)와와된표면분석

재료과학

  • 광학및재료특성화(창문,거울)
  • 사진(pas)에에어두운와프로파일링의조사조사
  • 재료의행동의특성화

반도체

  • 실리콘웨이퍼산소및탄소측정측정
  • 품질관리위한불순물의저온투과광발광(PL)측정

规格

외부,소스및검출기

顶点80/80V분광기에는개개출구출구출구출구개개입력가장착장착되어되어되어,예있으며있으며있으며예들어외부레이저레이저레이저및및싱크로트론광원광원에에연결연결할할할수수있는또한외부,소스및로분광계를업그레이드할있습니다있습니다있습니다있습니다。여기에는이됩니다됩니다。

  • vcd및pm-irras용pma 50편광변조액세서리액세서리
  • PL II광발광모듈
  • RAM II FT-라모듈과라만III FT-라현미경현미경현미경
  • tga-ft-ir커플링
  • 하이라이온시리즈ft-ir현미경
  • 하이라이온3000ft-ir이미징시스템
  • hts-xt높은스크리닝스크리닝扩展
  • iMac초점평면매크로이미징액세서리
  • 외부파트먼트xsa,대피대피제거가능가능가능
  • 외부uhvuhv챔버적응적응
  • 진공pl/pt/pr측정장치
  • 저온액체또는극저온액체극저온극저온
  • mir또는nir광섬유광섬유프로브있는광섬유유닛유닛유닛
  • 큰통합구
  • 자동샘플러장치
  • fir hg소스소스
  • mir-fir검출기검출기검출기넓은검출기검출기
  • 솔리드스테이트먼ir/thz빔스플리터
  • 외부배출어댑터
  • 외부mir소스
  • 외부고성능
  • 외부외부진공위치검출기(진공광학용)
  • fir범위의을위한볼로미터적응
  • 자동빔스플리터장치(BMS-C)(진공광학용)

更多信息

관련자료

관련문헌하여및에에알아보십시오알아보십시오알아보십시오。