顶点70V

진공광학

顶点70V ft-ir분광계분광계대피벤치중거리중거리중거리중거리중거리중거리근교근교근교₂흡수로매우스펙트럼특징을할없이얻어집니다집니다。뛰어난，예를나노연구영역하위단층까지，얻을있다있다있다。

FM FIR-MIR분광기

독특한bob电竞安全吗布鲁克FM기술은6000cm^-1〜50cm-1의한원거리중간중간스펙트럼획득수가능성합니다합니다합니다합니다。

넓은스펙트럼범위

顶点70V는선택으로광성분을장착하여멀리멀리멀리멀리멀리^10cm-1부터ir근처의28,000cm-1 vis/uv스펙트럼스펙트럼스펙트럼범위커버있다있다있다있다있다。^-1사전정렬광학영구적으로정렬된된된된된^TM值간섭계를변경용이유지유지없습니다없습니다없습니다。

인공지능네트워크

샘플링액세서리부품인식인식인식설정측정검사와같은훌륭한기능의의으로으로으로으로으로으로으로으로으로분광법분광법분광법분광법쉽고신뢰신뢰신뢰신뢰수수있습니다。또한분광기의적인검사고장진단유지보수를단순하게유지합니다합니다。전체소프트웨어은이을합니다합니다합니다。

플러그앤：간편간편설정설정

전，어디어디전원코드이더넷연결을연결연결하고하고하고하고하고하고하고하고하고하고는는는할준비되어있습니다있습니다있습니다있습니다있습니다。顶点70V에이더넷연결네트워크또는웹을분광계를제어있습니다있습니다있습니다있습니다。

顶点70V는연구및응용에적인입니다입니다。

사용되는은특허중하나이상으로보호：US 7034944

顶点70V진공는고감도，안정성안정성해상도가필요응용분야의요구요구완벽하게하게합니다합니다。fir/thz영역사용한스펙트럼는연구위한적으로으로특정응용프로그램을가능하게합니다。다목顶点70V시스템ft-ir분광법분광법의모든요구적합적합액세서리액세서리와적절한측정기술을사용하여하여제공합니다합니다。

연구개발

• 시간（am）및및（pm）분광기（pm）분광기（단계 /빠른 /인터리브 /인터리브trs）에에연속및및기술기술기술
• 초고진공의ft-ir분광법
• 전극표면전해질의조사조사위한위한위한위한위한분광
• 물에서단백질조사（Condocheck）
• 분자의절대의（VCD）

제약

• 열（tga-ft-ir）을통해의약품의및휘발성함량의화화
• 원적외선에서활성제약다형성다형성분화（브루커fm）

폴리머및화학

• 원적외선영역（bob电竞安全吗布鲁克FM）의폴리머에서무기필러식별
• 폴리머의및레오광학연구
• 열분석（tga-ftir）에의한휘발성의및분해공정의화화
• 반응모니터링반응（mir섬유프로브）
• 무기미네랄및식별

표면분석

• 얇고단층검출및특성화
• 편광변조（pm-irras）와와된된표면분석

재료과학

• 광학및재료특성화（창문，거울）
• 사진（pas）에에어두운와프로파일링의조사조사
• 재료의행동의특성화

반도체

• 품질관리위한웨이퍼의및탄소함량측정

외부，소스및검출기

顶点70v진공에는에는개개빔포트포트와개의입력입력포트가장착되어있으며외부측정액세서리액세서리액세서리，소스소스소스소스소스소스소스및및감지기감지기로로시스템을쉽게쉽게업그레이드업그레이드업그레이드여기에는이됩니다됩니다。

• VCD및pm-irras용PMA 50편광변조액세서리
• PL II광발광모듈
• RAM II FT-라모듈과라만III FT-라현미경현미경현미경
• tga-ft-ir커플링
• 하이페리온시리즈ft-ir현미경
• 하이페리온3000ft-ir이미징시스템
• hts-xt높은스크리닝스크리닝扩展
• iMac초점평면매크로이미징액세서리
• 외부파트먼트xsa，대피대피제거가능가능가능
• 외부uhvuhv챔버적응적응
• 진공pl/pt/pr측정장치
• mir또는nir광섬유광섬유프로브있는광섬유유닛유닛유닛
• 큰통합구
• 자동샘플러장치

• fir hg소스소스
• mir-fir빔빔빔스플리터검출기검출기검출기검출기검출기검출기（브루커FM）
• 외부배출어댑터
• 외부mir소스
• 외부진공진공위치위치챔버챔버
• fir범위의을위한볼로미터적응