esrデジタルアップグレ，ド

他にはないアップグレ，ド技術で，esr分光計の性能を最大限に引き出すことができます。技術の進化に伴い,デジタル・アップグレード・パスウェイは,お客様が最先端のCWおよびFT-ESR研究の要求を満たす装備を維持できるよう,独自に開発されます。

現在のアップグレ，ドでは，大幅な改善を実現します。

• 分解能
• 操作性
• 安定性
• 許容値
• 感度

ELEXSYS

改良された32ビット振幅分解能，高速デジタザ，高速スキャンのデタ取り込み

デジタル・ロックインとして,SPUは,1回のスキャンで,同じレシーバーゲインで大小の信号の両方に,比類のない検出能とデジタイズを提供します。また,SPUは過渡的な取得のための高速デジタイザーとして,また,超高速磁場掃引のための高速スキャンドライバーとしても機能します。
ロック电子邮箱ン:

• 最大5種までの高調波を同時検出
• 吸着·分散チャンネル
• 最大10マ▪▪クロ秒の分解能でタ▪▪ムスキャンが可能

信号処理装置(spu)

高速デジタザ

• サンプリングレト125 MHz
• 64 k机载平均
• 時間領域で16000デタポント

高速スキャン

• 掃引範囲200g
• 最大16 kポescント
  

最大256000ポescントの磁場分解能

狭い掃引範囲でも広い掃引範囲でも非常に高い磁場分解能を有しています。磁場掃引実験のポaapl . exeント数を2~256000ポaapl . exeントまで連続的に変化させることができます。

Xeprソフトウェア

新しいXeprの機能

• XeprAPI for Python^®スクリプトンタフェス
• 高精度ダブルンテグレションル
• 標準試料を使用しない定量的ESR用SpinCount™ソフトウェアモジュ，ル
• スピントラップデ，タ解析のためのSpinFit™ソフトウェアモジュ，ル
  

Xepr SpinCount™

• 標準試料が不要なスピンカウント
• 一回の測定
• 高精度の結果出力と管理
• 容易な操作，正確な手法
  

Xepr SpinFit™

• スピントラップデ，タベ，スからのラジカル付加体の定義
• 実験スペクトルに対するラジカル付加体のフィッティング
• SpinCount™を用いたラジカル付加体の濃度測定

EMX

• 新開発のシグナルチャンネルとフィ:
• 新しいデジタルデバ▪▪スは，フィ▪▪ルド分解能と信号振幅分解能の両方でダ▪▪ナミックレンジを向上
• 信号チャネル:改良された振幅分解能，24ビット
• 1 .回のスキャンで，同じレシ，バ，ゲ
• 大厅控制器:フィ，ルド分解能の向上，256000ポ，econpント
• 狭い掃引範囲でも広い掃引範囲でも，非常に高い磁場分解能を発揮

氙ソフトウェア

特長

• Linuxベ，スのソフトウェアパッケ，ジの容易な取り回し
• 統合されたデ，タ測定および処理ソフトウェア
• 自動掃引分解能設定
• 飽和解析実験のためのp½フィッティング
• 高精度ダブルンテグレションル
• 標準試料を使用しない定量的esr用スピンカウントソフトウェアモジュ，ル
• スピントラップデ，タ解析用SpinFitTMソフトウェアモジュ，ル
• Elexsys装置と同様のbes3tデ，タフォ，マット
  

Xepr SpinCount™

• 標準試料が不要なスピンカウント
• 一回の測定
• 高精度の結果出力と管理
• 容易な操作，正確な手法

Xepr SpinFit™

• スピントラップデ，タベ，スからのラジカル付加体の定義
• 実験スペクトルに対するラジカル付加体のフィッティング
• SpinCount™を用いたラジカル付加体の濃度測定

ご利用中のEMX / ELEXSYS晶片机またはESPシステムを次のレベルにアップグレードするには,当社のアップグレードパスウェイのいずれかを選択してください。

PatternJet-II

PatternJet-Iの高性能をベースに,PatternJet-IIでは各チャンネルのメモリを拡張し,より多くのパルスと回数を実現し,再プログラミングのオーバーヘッドがありません。

• 最大時間分解能1ns
• チャネルあたり1024パルス
• 再プログラミングが不要なダ▪▪レクトフェ▪▪ズサ▪▪クル
• 再プログラミングのオ，バ，ヘッドがなく，直接2dデ，タ測定が可能

SpecJet-III

高速平均化とリアルタイムのデジタル信号処理を組み合わせたSpecJet-IIIはFT-ESRに理想的なデジタイザーです。時間領域でのesr実験の最適化に加え，周波数領域での実験の最適化と収集にdspを使用しています。

• 時間分解能0.5 ns
• 14ビットの振幅分解能
• リアルタ@ @ムデジタル信号処理
• リアルタ@ @ム@ @ fft設定モ@ @ド
  

高速デ，タ測定

PatternJet-IIとSpecJet-IIIの組み合わせは,これまでにない実験効率と柔軟性を実現します。

ダ▪▪レクト位相サ▪▪クル

sj-iii / pj-iiの組み合わせでは，位相サクルに伴うオバヘッドが取り除かれました。これまで10秒かかっていた16ステップの位相サイクルの2パルスESEEMスペクトルを0.8秒で取得できるようになりました。

マルチスラ▪▪スデ▪▪タ測定

SJ-III / PJ-IIは,二次元実験のスライスを個別に取得するのではなく,複数のスライスを同時に取得します。これまで346秒かかっていた2d hyscore実験が，わずか70秒で完了しました。

SpinJet -AWG(オプション)

spjet - awgはパルスESRの飛躍的な進歩です。広範囲のmwパルス制御により，実験デザescンと最適化に新たな可能性を開きます。

各パルスの周波数定義

ショット内でのパルス形成

パルスの周波数チャ，プ

各パルスの位相定義

マルチチャンネルアキテクチャ

ご利用中のELEXSYS晶片机/ OS9システムを次のレベルに引き上げるには,当社のアップグレードパスウェイを選択してください。