原子間力顕微鏡NanoWizard纳米科学
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NanoWizard®4 XP纳米科学
NanoWizard®4 XP NanoScience原子力显微镜在一个系统中提供原子分辨率和100 μ m的大扫描范围。它能够以高达150行/秒的速度快速扫描，并与先进的光学技术无缝集成。广泛的模式和附件，用于环境控制，纳米机械，电，磁或热特性的映射，使其成为当今市场上最灵活的系统。
特長
最高的灵活性结合了极致的性能
NanoWizard 4 XP NanoScience配备了一系列的新功能，包括:
- PeakForce攻®方便成像
- 快速扫描选项每秒可达150行
- NestedScanner技术可用于高达16.5 μ m的表面结构高速成像，具有出色的分辨率和稳定性
- 新的瓷砖功能用于大样本区域的自动绘图
- V7软件具有革命性的全新基于工作流的用户界面
- DirectOverlay™2软件与先进的荧光显微镜平台进行完美的整合和数据关联
- Vortis™2控制器用于高速信号处理和最低噪声水平
PeakForce tap提供了优越的力控制和不复杂的设置，无论什么样例或环境。不需要专业知识或悬臂调优。
它能够精确控制探头到样品的相互作用，并将成像力降至最低，从而保护您的尖端，确保一致的，长期的，高分辨率成像。
自动化分析大样本区域与新的平铺功能
最快最简单的导航方法是看你想去的地方。DirectOverlay 2提供即时导航，与直接选择测量位置在扫描仪范围内的任何地方。Motorized Precision Stage和HybridStage™free实验AFM压电范围的横向约束，并允许直接电动运动到选定的位置。
新DirectTilingFeature自动创建一个大的光学概述来加速这个过程。Multiscan支持对高分辨率图像进行平铺，以建立样本的全面概述。重复或复杂的测量序列可以使用自动化ExperimentPlanner™宏。
图片显示PDMS冲压表面图案，样品由意大利热那亚大学Claudio Canale博士提供。参考图案的光学图像。四个正方形区域用同心圆角图案标记，内角形成一个50微米的正方形，测试图案印在中心，但在光学设备上看不见。通过DirectOverlay导入到SPM软件中，这样的图像允许在被许多倍于压电范围分隔的参考位置之间单击导航。QI两种参考模式(见箭头)的高级图像，地形[2]+[4]和粘连图像[3]+[5]。
增强的材料属性映射
电、机电或磁性样品特性的表征一直是一项艰巨的任务，特别是对松散附着、脆性或软质的样品。JPK的气™先进模式功能使这变得简单而直接。NanoWizard 4 XP NanoScience系统由一系列的模式和附件支持，每一个设计都易于操作，以满足研究人员的个人需求。许多研究材料特性的实验，包括电学特性，都得益于在受控惰性气体气氛下的封闭单元中进行测量。
材料性能表征
- 机械性能(弹性、刚度、附着力、变形)
- 电学性能与电力显微镜，电导AFM，开尔文探针AFM (KPM)，扫描隧道显微镜(STM)
- MFM的磁性
- 光导AFM的电光性质
- 扫描热原子力显微镜的局部热性质
原位AFM同时施加外部载荷以改变样品的性质
- 高压压电反应显微镜(PFM)
- 用StretchingStage观察外部载荷下的样品
- 施加外部磁场
- 电化学和扫描电化学(SECM)
环境控制方案样本
- 样品从环境加热到300°C
- 样品从环境冷却到- 35°C
- 冷冻afm降至- 150°C与CryoStage
- 定义样本湿度
- 非常适合液体实验，即使是恶劣的液体
- 控制气体流量的实验
- 在手套箱里进行严苛环境下的实验
关键特性
- 快速扫描选项具有高达150行/秒跟踪动态过程
- 现在有了布鲁克独家bob电竞安全吗的巅峰力敲击作为标准
- l大扫描范围100 × 100 × 15 μ m3.以及倒置显微镜上的原子晶格分辨率
- 新的基于工作流的用户界面符合人体工程学和易于操作
- 新的瓷砖功能与HybridStage一起自动绘制大样本区域
- 新Vortis 2控制器配备高速低噪声dac和尖端位置传感器读出技术
- 最高的灵活性和可升级性具有广泛的模式和配件
アプリケション
纳米向导4 XP纳米科学数据画廊
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仕様
操作模式
标准的操作模式
成像模式
- 现在用PeakForce敲击
- 侧向力显微镜(LFM)的接触方式
- 敲击模式™与相位成像™
力的测量
- 静态和动态光谱学
- 先进的力映射
可选模式
- 快速扫描选项，高达150行/秒
- 快速QI高级模式的定量数据，完美的软样本
- 机械性能，如附着力，弹性，刚度，变形
- 电导率和电荷分布映射
- 零力接触点成像(CPI)
- 结合位点定位的分子识别成像
- 先进的交流模式，如调频和PM与q控制和主动
增益控制
- 高次谐波成像
- 开尔文探针显微镜和单片机MFM和EFM(参见QI模式)
- 导电AFM(参见QI模式)
- 扫描隧道显微镜
- 电子光谱模式
- 高压压电反应显微镜
- 具有温度控制和光学显微镜的电化学
- 纳米
- 纳米操作
- Nanoindentation
- 热AFM扫描
- Cytosurge的FluidFM®溶液
- 用于设计特定测量工作流程的实验计划器
- RampDesigner™用于定制设计夹具和斜坡实验
- 用于远程实验控制的ExperimentControl功能
- DirectOverlay 2用于组合AFM和光学显微镜
- CellHesion®，TAO™和HybridStage™模块提供额外的XY或Z样品移动平台
アクセサリ
市场上最广泛的配件
光学系统/附件，电化学解决方案，电气样品表征，环境控制选项，软件模块，温度控制，声学和隔振解决方案等等。bob电竞安全吗布鲁克为您提供了正确的附件，以控制您的样品条件和执行成功的实验。
ソフトウェア
新的基于工作流的用户界面重新定义了用户友好性
新的V7软件界面指导用户通过工作流程直观地设置实验，使其简单，即使用户有最低的AFM经验，也可以自信地生成高质量的数据。设置和操作的每个阶段都是一个优化的桌面，只需一次点击就能将所有重要信息集中起来。
- 屏幕上,上下文敏感的帮助
- 对齐和设置的状态反馈
- 高效的基于任务的实验选择
- 快速访问最喜欢的和最近使用的实验
- 一键式探针校准
- 关键数据的即时概述
- 多用户环境(如成像设施)的用户管理
ウェビナ
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