缺陷和污染

CdTe监控

CdTe监控

x射线衍射成像(XRDI,也被称为x射线地形)是用来成像晶体缺陷在其他完美(或接近完美)的基材。使用QC-RT上的虚拟狭缝,可以对样品进行模式成像,以可视化划痕、错位和其他缺陷,也可以在衬底内进行图像定向对比。

在模式中成像样本

使用QC-RT上的虚拟狭缝,可以对样品进行模式成像,以可视化划痕、错位和其他缺陷,也可以在衬底内进行图像定向对比。

从相同的数据创建的图像

这些图像是由相同的数据创建的,允许用不同的处理方法成像不同的长、近距离特征。