半导体和纳米技术

高级电力（Gan＆SIC）

高级功率

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SIC缺陷

X射线衍射成像（XRDI，也称为X射线地形）和Micro-XRF用于在原本完美（或接近完美）底物中形象和可视化晶体缺陷。

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