Hysitronπ85 e
扩展范围的原位纳米机械扫描电子显微镜测试仪器
做marquants
Hysitron PI 85E SEM picindenter
Hysitron PI 85E SEM picindenter扩展了原位力学测试的范围，弥合了纳米级和微观级表征之间的差距。这种深度传感纳米机械测试系统是专门设计来利用扫描电子显微镜(SEM, FIB/SEM, PFIB)的先进成像能力，同时进行定量纳米机械测试。其扩展的力范围使研究人员能够准确地测试尺寸大和/或硬结构，需要更大的负载导致失效和/或断裂。PI 85E仪器提供压痕、压缩、拉伸和疲劳测试，涵盖整个材料光谱(从金属和合金到陶瓷、复合材料和半导体材料)。PI 85E紧凑、低调的结构使其非常适合小室sem、拉曼和光学显微镜、波束线等。
模块化
核心测试技术套件
支持纳米压痕，压缩，张力，疲劳，PTP, E-PTP和电气表征。
至关重要的
扫描电镜配件
使技术人员和操作人员能够在多用户设施中进行可靠的测量。
扩展
力范围
提供高和低负载位移能力，以测试高强度和高依从性的样品。
的特性
纳米压痕:高精度原位力学测试
表征硬度，蠕变，应力松弛，弹性模量和断裂韧性的近表面特征，界面，局部微观组织，和薄膜。
扩展范围的行为探索
碳纳米管结构的变形。
Hysitron PI 85E集成了多种测试模式来表征基本力学性能，应力-应变行为，刚度，断裂韧性和变形机制的样品范围广泛。除了Bruker的工业标准测试bob电竞安全吗传感器，PI 85E提供更高的负载(250 mN)和更大的位移(150 μ m)能力。高带宽传感器和弯曲与先进的控制电子充分优化大规模样品测试，并提供卓越的性能和灵敏度。
一、二、三维纳米结构的表征
ZnO纳米线安装在E-PTP上的变形。
Hysitron PI 85E系统采用专利技术做(PTP)表征一维结构(如纳米线和纳米管)和二维结构(如独立薄膜)的器件。这些结构也可以通过仪器可选的电动推拉装置进行电特性分析。PI 85E较大的位移范围也适合于测试三维晶格到较大应变的变形。
