ContourSP
用于大批量、高精度PCB生产控制的大面板计量系统
做marquants
ContourSP
结合了超过十年的封装光学表征专业知识，ContourSP大面板测量系统在高密度互连PCB (HDI-PCB)衬底的测量吞吐量是上一代WLI仪器的两倍以上。该系统专门设计用于在制造过程中测量PCB面板的每一层，并结合了许多先进的功能，为半导体封装行业提供了最大的生产性能，便利性，可靠性和吞吐量。可测量的ContourSP利用直观的生产界面，通过可配置的用户输入提供快速、简单的基准校准。
全面的
工业计量
实现快速、高精度PCB生产控制。
独特的
系统功能
确保最高的产量，最大的正常运行时间，和最低的成本每面板。
最高
吞吐量
在不影响准确性的情况下，提供2倍的数据速度。
的特性
无与伦比的精度
ContourSP系统采用了新的抗振动系统设计和专利Wyko垂直扫描干涉(VSI)成像技术，可测量的ContourSP系统可在纳米分辨率下进行极其精确的三维临界尺寸(CD)测量。这种能力与广泛的自动化相结合，使得ContourSP既可以作为一种强大的表面纹理测量仪器，也可以作为一种易于使用的缺陷检测工具，实现多任务处理。
ContourSP测量掩模、衬垫和掩模内衬底的尺寸和高度。
精简操作与分析
ContourSP包括自动对齐的各种基准的简单设置。可选的软件确保快速，准确的定位所需的功能。
ContourSP直观的生产界面通过可配置的用户输入提供快速、简单的基准对齐。除了通过/失败信息外，用户现在还可以选择详细的参数结果，以便在摘要屏幕上显示。Vision64软件为工程师、技术人员和操作人员提供了完全的访问控制，具有简单的协调文件导入功能，保证系统到系统的配方可移植性和快速文件创建。
大测量面积为面板计量量身定制
该系统采用Bruker革命性的龙门式设计bob电竞安全吗和集成工作站，以高度紧凑的占地面积支持高达600x600毫米的样品。专门为生产面板计量设计的软件，帮助制造工程师和操作员充分利用独特的光学轮廓特征，动态信号分割，重测功能，地形扫描补偿晶圆弓，坐标文件导入，ESD，面板ID读取和模式识别。
ContourSP龙门设计提供了一个600x600mm的测量区域。