坡度控制WDXRF

波长色散x射线荧光光谱仪(WDXRF)在品位控制实验室提供卓越的分析精度和精度。与EDXRF一样，WDXRF中的所有元素都由x射线源激发。与EDXRF不同，产生的二次x射线向不同方向衍射，并按顺序或由一系列探测器对每种元素进行测量。这种波长衍射允许高光谱分辨率和消除重叠。对于矿物品位控制，这可以为复杂矿石的检测提供下限。WDRFD用于等级控制的一些优点:

• 当需要低方差测量时，为矿物分析提供高精度结果，或在需要低检测限的情况下分析微量元素
• 精确测量具有复杂重叠的元素，如砷、铅和金。
• 满足严格的ISO要求，如ISO 9516-1:2003，用于测量铁矿石中的铁，硅，钙，锰，铝，钛，镁，磷，硫，钾，锡，钒，铬，钴，镍，铜，锌，砷，铅和钡。
• 满足高重复性分析要求。