nanoECR
原位纳米级电接触电阻
导电Nanoindentation
电流与位移曲线以及从压痕到Si的相关电流测量，显示相变过程中电阻率的变化。
电接触电阻测量与纳米压痕的结合为纳米尺度接触电阻演化和材料变形行为提供了有价值的新见解。通过将电流通过导电纳米压头探针，可以确定纳米尺度的电特性作为应用到样品表面的探针力和探针位移的函数。除了定量测量纳米电触点的I-V特性外，还可以在薄膜断裂、位错成核、变形瞬态、接触电阻、疲劳、二极管行为、隧道效应、压电响应、相变等领域获得新的见解。
单次压痕实验中获得的不同负载下的一系列电流-电压(I-V)曲线。
原位电和纳米压痕测量
bob电竞安全吗Bruker的纳米ecr利用了Bruker专利静电传感器的新模型，该模型经过了改进，提供了从样品偏置级到导电压头探头的电路径，从而能够连续测量随作用力和探头位移变化的电接触条件。nanoECR在反馈控制下工作，在高度受控的应用负载或探针位移条件下，可以从纳米级探针触点进行恒定电压或I-V扫描测量。
