Esprit成像
各种成像选项 - 从简单的图像获取到完全特色的图像处理
带有扫描预览窗口的图像采集模式
ESPRIT扫描
具有外部扫描系统支持工具的图像采集软件：
- SEM，STEM和EPMA的外部电子束控制，模式切换和图像采集
- IO-Scan和Semlink的驱动程序
- 来自可选模拟信号源（SE，BSE，HAADF等）的高质量，高分辨率的数字图像
- 扫描区域选择和光束调整的快速预览模式
- 独立选择采集时间，图像分辨率和扫描模式
- 像素，线和框架平均包括电源线同步（选项）
- 自动和手动亮度，对比度和伽马校正
- 显示直方图
- µ-Marker和图像图例显示包括配置选项
Esprit Colorscan
X射线增强颜色图像的获取：
- 即时颜色图像，没有元素预选或X射线范围的预设
- 高分辨率电子图像中不同颜色和阴影对相的直观歧视
- 拓扑和化学对比的令人印象深刻的组合
- 轻松搜索感兴趣的要点和区域
- 突出显示样品表面上颗粒，伪影或独特区域的突出显示
- 搜索同质区域以获取精确的分析结果
- 通过改进图像质量进行渐进扫描
- 最适合高速XFLASH®检测器系统
处理和标记的图像
Esprit Vision
数字图像处理：
- 选择可配置的图像过滤器，包括二进制和反转
- 亮度，对比度和伽马校正
- 错误的颜色显示
- B/W和颜色图像处理
- 标记，传说和用户定义的图形的覆盖图像
- 与图形覆盖中的数据显示有关的交互式长度，面积和角度测量
- 多阶段图像处理，包括内部图像存储和多个“撤消”功能
- 图像以所有常见的图形格式导入和导出
- 吐温导出和Windows剪贴板支持
ESPRIT立体声愿景
3D图像可视化和测量：
- 立体图像对的3D表面拓扑重建
- 免费选择倾斜轴（包括不对称倾斜），有助于使用标准SEM进行图像获取
- 自适应图像比较模式（吞噬，差异图像和全帧相关性）
- 单点深度计算，线轮廓和多点操作
- 强大的3D结果通过电网，阴影，人造纹理或位移向量可视化
- 完全可重新处理的项目数据库，包括原始数据，结果和设置
Esprit Driftcorr
- 通过将当前图像与开始测量时获得的图像进行比较，补偿了扫描样品区域的图像移动
- 自动在获取过程中自动更正外部扫描发生器
- 显示当前和最大移位值以及比较过程的质量
- 超过最大校正值时停止测量
- 与图像采集功能以及选项多点，对象，线can，地图和超图结合起作用