新的专利敲击AFM-IR模式是一个令人兴奋的新能力,提供10纳米空间分辨率的化学成像以及单层测量灵敏度,并将纳米ir的能力扩展到更广泛的样品。利用AFM-IR保留了纳米ir技术的易用性,因此可以轻松快速地实现最佳测量分辨率。
在nanoIR2/2-s和nanoIR1平台上可用。
允许用户在AFM图像上选择任意点(或点系列)以获得局部转变温度,即Tg和Tm,通过转变温度显微镜(TTM)模式对整个样品表面的转变温度进行成像,并收集样品表面的相对热导率或相对温度变化(SThM)的地图。适用于所有Anasys纳米红外系统以及作为选择第三方afm的补充。