具有近200万像素(1600 x 1200像素)的原生CCD分辨率和最先进的相机光学,以最小化失真,新的eFlash HD探测器提供高清晰度菊池模式,显示最好的细节。eFlash HD是残余应变分析(HR-EBSD)的完美选择。数据集包含eFlash HD高质量的模式也非常适合与第三方软件如croscourt4进行交叉相关分析。
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与它的前身(eFlash HR)相比,新的eFlash HD探测器具有改进的冷却系统,将CCD的暗电流降低了四倍。因此,生成的菊池图案现在有更好的质量,包括更高的信噪比。
新的eFlash HD探测器使用高效率和高质量的荧光屏来获取高细节的菊池图案。高像素分辨率CCD芯片和小晶粒尺寸荧光粉材料的组合保证了20 μm图案的最终像素尺寸,使图案中可见非常小的变化。
eFlash HD的高精度导向系统,屏幕定位精度优于10 μm。因此,新的eFlash HD是运行基于屏幕移动的模式中心校准方法的最佳解决方案。
eFlash HD可与ARGUS™预焦/背散射电子成像系统配套使用。这进一步增加了检测器的多功能性,并为有意义和有效的微观结构表征提供了有价值的附加信息。
新的eFlash HD还可以配备独特的OPTIMUS™TKD探测器头,以最佳的样品探测器几何结构分析电子透明样品。