磁力显微镜(MFM)

长期以来，磁性记录材料、超导体和磁性纳米颗粒等领域的研究人员一直对纳米尺度的磁力研究感兴趣。磁力显微镜(MFM)是一种衍生的二次成像模式TappingMode™它可以绘制出样品表面上方的磁力梯度，同时获得地形数据。

MFM依赖于专利的双通道技术LiftMode™。该系统在样品表面和样品表面上方指定抬升高度交替扫描线，分别测量地形和磁力。

MFM可以用来成像磁性材料中自然发生的和有意书写的畴结构。