侧力显微镜（LFM）

横向力显微镜（LFM）源自联系模式成像。在接触模式下，悬臂探头的垂直弯曲在整个表面进行扫描时测量。还可以测量悬臂的横向弯曲，可以确定有关样品表面摩擦特征的信息。

横向力可能是由于样品表面上一个区域的摩擦系数的变化或高度变化的侵害而产生的。因此，LFM可用于测量表面材料中缺乏均匀性和产生具有增强地形特征边缘的图像。