DAS BlendenManagement（Aperture Management System -AMS）
定性分析topografischer概率
Ein Wesentlicher vorteil der mikro-rfa sind die minimalen anforderungen a die probenvorbereitung。Dennoch Muss Eineuntersuchungsebenefür模具Messungen Definiert Werden。Viele Proben Sind Nicht Perfect Planar undKönnenauch nichtverändertWerden（Z。B。Wichtige HistorischeMuseumsstücke）。Bei der质量分析（Z。B。映射Oder Linenprofile）von topografischen proben werden teile deroberflächeAußerhalbder fokusebene liegen。Das Blendenmanagement ams dient dererhöhungderschärfentiefe。Genau wie bei der optischen bildgebung -aber aus ganzanderenGründen -erhöhteeineblende vor der linse die dieschärfentiefe。Damit Bleiben Auch Bei Proben Proben Mit Hoher Topografie Die Meisten Strukturen Scharf，d。H。Innerhalb der fokusebene。
Skizze des funktionsprinzips von ams。Indem Nur Die Innersten Kapillarenröntgenstrahlendurchlassen，wird divergenz des strahls verringert and dietiefenschärfeerhöht。
EIN SMARAGDKRISTALL AUS BRASILIEN。Die Kristalle Haben Einen Durchmesser Von> 1厘米。Die Fokusebene Liegt Im Oberen Drittel des obersten Kristalls。哦，sind viele teile des kristallsaußerhalbder fokusebene und damit unscharf。
ohneänderungder probenposition wurde das map mit dem ams neu eRstellt。Dieschärfentiefeisterhöhtundunddergrößteteilprobe erscheint jetzt scharf。
